在论坛里，有工程师提到过关于运放参数的测试方法。运算参数的详细解释和分析【TI FAE 分享】系列博文里也零零星星提到过一些运放参数的测试方法，但不大系统。下面给大家分享一系列的运放测试方法论文。希望对大家有帮助，另外，如果大家感兴趣，我们可以把这些论文翻译整理出来。并制作测试电路实测一下。

The basics of testing op amps, part 1: Circuits test key op-amp parameters

The basics of testing op amps, part 2:Test op amps for input bias current

The basics of testing op amps, part 3:Configurable circuit tests op amps

The basics of testing op amps, part 4:Testing op amps requires stable test loops

我们将根据回贴情况决定是否翻译整理。

KW X：

谢谢！最好翻译成册，供大家阅读讨论。

jack lin1：

有中文是最好的，能够加上Ti工程师自己的注解就更好了

deyisupport：

回复 jack lin1:

大家看看中文版的….

Wenjia Song：

希望可以进行翻译，方便研究和讨论运放测试方法。

Jason Shen：

回复 Wenjia Song:

运放是模拟电路的最基础元件，运放懂了，很多都可以触类旁通。

shaowei xu：

回复 deyisupport:

谢谢楼主分享

Chen steven：

thank you for sharing these.

Pengfei JIN2：

您好，谢谢您的分享，我这里有点疑惑，希望您能够帮我解决一下，关于part4部分的稳定测试环路，您不能把第一类补偿法解释的再详细一点，特别是关于图五的绘制和公式一的解释。麻烦您您不能做一个excel分享给我们，让我们学习一下。以前没有做过这方面。谢谢您啦。辛苦啦。

Jack Lee2：

非常棒的分享，感谢TI工程师的无私分享，学习了

Jack Lee2：

回复 Pengfei JIN2:

现在这个有详细的解释没，分享下呗，我的邮箱 ligx@chipsea.com