近期调试TMS320F28377D，遇到了一些问题，程序框架采用双核模式，其中CAN通信位于CUP1，ADC采样位于CPU2，整个程序跑RAM时，CAN通信和ADC采样都可以正常工作。但是烧写FLASH后，CAN能正常工作，而在CPU2中的ADC不能进行正常的采样。我把CPU1中的CAN程序注释掉，再次烧写FLASH，ADC可以正常工作。初步判断是在FLASH 运行时，CAN通信的程序和ADC存在冲突。这个问题困扰了好久了。
TMS320F28377D 属于C2000系列，有专门的C2000论坛可以咨询。
e2echina.ti.com/…/
LAUNCHXL-F280049C: C2000WARE中提供的ePWM样例代码debug时ecap部分出现波形异常+ADC采集异常
TMS320F28377D: 28377dWT
TMS320F28377D: 在编译官方提供的can例程时，报错Unrecognized COMPILER!
TMS320F28377D: EMIF
TMS320F28377D: 如何修改sys/bios的clock tick 周期
RM44L520: ADC中调用while(adcIsConversionComplete(adcREG1,1)==0);后不再向下执行
TMS320F28377D: 芯片的采样问题
TMS320F28377D: 寄存器写入问题
TI中文支持网