TMS320F28377D 中CAN通信以及双核程序烧写FLASH时，CAN程序影响CPU2中ADC的正常采样

最近调试TMS320F28377D，程序框架为双核，其中CAN通信在CPU1中，ADC采样在CPU2中。程序跑RAM时，CAN通信和CPU2中的ADC均能正常工作。当烧写FLASH后，CPU2中的ADC却不能正常采样，（CPU2中的其他程序正常运行）。当把CPU1中的CAN通信程序注释掉，再次烧写FLASH后，ADC可以可以正常工作了。考虑是CAN通信和CPU2中的ADC程序在FLASH中存在冲突，是否有相应的解决办法？