adc 第一次采样被忽略,那么第一次采样 与第二采样 精度相差多少?
mangui zhang:
没看到过这种说法啊 你的意思是第一次采样MCU硬件上就忽略了?
我们得到的是使能采样后第二次之后的数据?
采样值都需要做平滑滤波处理
adc 第一次采样被忽略,那么第一次采样 与第二采样 精度相差多少?
user1303469:
回复 mangui zhang:
首次采样需要软件忽略
adc 第一次采样被忽略,那么第一次采样 与第二采样 精度相差多少?
mangui zhang:
没看到过这种说法啊 你的意思是第一次采样MCU硬件上就忽略了?
我们得到的是使能采样后第二次之后的数据?
采样值都需要做平滑滤波处理
adc 第一次采样被忽略,那么第一次采样 与第二采样 精度相差多少?
user1303469:
回复 mangui zhang:
首次采样需要软件忽略
TMS320F28384S: 烧录仿真器连接失败
TMS320F28P659DK-Q1: CLA call fmodf function
TMS320F28034: 在初始化的时候,调用delay_us函数进入非法中断
TMS320F280049C: 数据在debug模式下和release模式下读取不一致
TMS320F28377D: ePWM 使用上升下降模式 进行调制时出现异常驱动