DLPC3433 花屏问题

你好

    关于DLPC3433目前客户使用，遇到以下问题，想请教下，谢谢！

花屏现象描述：
1.1 测试6个主板，结果差异比较大，随着温度的升高，部分左边光机花屏，部分右边光机花屏。对温度的敏感程度也不一致，也有都好的。

1.2对其中一块温度非常敏感的主板做极限测试，（这个主板工作15s以内就会右光机花屏，后面基本上都是用这个主板做实验 简称异常主板A），用烙铁包上导热硅胶，对DLPC加热，刚放上去就出现花屏趋势。
1.3 对异常主板A，工作一端时间后，取向花屏时，用冰的导热泥放上DLPC3433,花屏能够恢复。

1.4对异常主板A，调整ANX输出MIPI M值（即host端MIPI clk 值，上下浮动10%），光机会出现花屏。
1.5 将验证OK的主板上的DLPC 的Flash 和异常主板A上的Flash对调（Flash上有对应 DLPC的固件），异常主板A 光机出现花屏。

Kevin Shi：

您好！

感谢使用TI的DLP产品。

1.1 测试6个主板，结果差异比较大，随着温度的升高，部分左边光机花屏，部分右边光机花屏。对温度的敏感程度也不一致，也有都好的。

->请问6个主板是与同一个光机测试的还是与不同的光机测试的？提到的随着温度的升高是指正常播放的时候吗？有没有对光机进行散热？

1.4对异常主板A，调整ANX输出MIPI M值（即host端MIPI clk 值，上下浮动10%），光机会出现花屏。

->出现花屏时，数据源是什么？外部输入的MIPI？有没有测试过内部的测试pattern，会不会同样出现花屏？

谢谢

user5999304：

回复 Kevin Shi:

您好，Kevin
测试使用的是同一个光机，有试过单独对光机做降温，还是会花屏，但是单独对主板持续做降温，花屏会好转，目前看不良跟着主板走上的芯片走。同一个主板上有两个芯片，对温度的敏感程度也不同。有的主板左边芯片会异常，有的右边芯片会异常，比较离散。
花屏时的数据源大部分是外部MIPI。有一次出现异常后，外部link异常，没有显示外部mipi的数据，而是出现自身的测试pattern。这样的情况下，自身的测试pattern也会有花屏现象。

Kevin Shi：

回复 user5999304:

您好！

同一个主板上有两颗芯片是指指有两颗DLPC3433吗？

如果从上电开始一直使用内部的测试pattern，会出现随着温度的升高而出现花屏的现象吗？

建议可以检查DLPC端，MIPI信号是否满足DLPC3433数据手册要求，包括时序电平等。

谢谢

user5999304：

回复 Kevin Shi:

是的，同一个主板上有两个DLPC3433，左右各一个。

出现问题时，是一个缓慢的过程，不是直接花屏，开始是帧同步不对，画面出现分割，慢慢的出现几帧数据出现在同一个画面，最后就是卡死了。

如果再出现异常的过程中，对DLPC进行散热处理，屏幕能够慢慢的恢复正常。

目前没有资源可以测试MIPI信号。

我想咨询下，是否有内部寄存器可以看相关问题，或者debug的方式？另外有没有其他客户遇到类似问题。

如果是时序问题，不太明白为什么呈现出来对温度的敏感程度差异会这么大？

Kevin Shi：

回复 user5999304:

您好！

1.很抱歉没有描述清楚，请检查MIPI接口的HOST Timing是否满足要求。

2.需要确认在使用内部测试pattern的情况下会不会出现花屏，不考虑MIPI。

谢谢

user5999304：

回复 Kevin Shi:

Dear Kevin

         1.MIPI的时序问题，我们会在近期测试。

         2.早期确认时，测试内部pattern不会花屏。现在板子已经送工厂做维修，不良现象已经消失了，无法再次确认了。

         3.之前特别容易出现花屏的两个板子（常温工作1~3分钟就会出现花屏），送去工厂做芯片的rework（使用新的芯片替换之前容易花屏的芯片，其他保持不变），不良现象消失了，工作30分钟，没有出现花屏。这两个芯片能否帮我们做进一步分析？

Kevin Shi：

回复 user5999304:

您好！
之前特别容易出现花屏的两个板子（常温工作1~3分钟就会出现花屏），送去工厂做芯片的rework（使用新的芯片替换之前容易花屏的芯片，其他保持不变），不良现象消失了，工作30分钟，没有出现花屏。这两个芯片能否帮我们做进一步分析？
->更换芯片以后没有出现花屏。有在高温下做测试吗？目前还有其他驱动板存在这个现象吗？如果把这两颗芯片换到原本不会出现花屏的驱动板上是否依旧存在花屏？

如果需要做失效分析，可以请代理商帮忙申请，需要的话可以直接联系TI。
谢谢

user5999304：

回复 Kevin Shi:

Dear kevin

         是的 工作30分钟，主板上温度很高，（未更换之前，常温测试2-3分钟就会花屏，前后差异很大），本来想做重新植球交叉实验的，但是由于这个芯片球径很小，工厂端评估后，他们觉得目前的能力无法保证重新植球后能够正常工作，所以才使用了新的芯片。

目前已经让代理走申请流程了，带是代理说不一定能够审核通过。

另外 下周一回去测试MIPI的时序，除了上文中 LP转HS部分的时序测量以外，还需要做什么确认？因为目前我司没有能力直接测试，所以MIPI测量一次还是比较繁琐的。感谢!

user6068064：

同样的问题

Kevin Shi：

回复 user5999304:

您好！
请提供邮箱，我们可以线下交流并且提供支持。
谢谢