TI中文支持网，但是Test connection 测试连接成功，烧录时提示芯片未应答，或都芯片锁住，但是几块板都是一样，我相信不是芯片问题！ 现在无头绪，求思路
Seven Han：请问板子是TI的还是自己设计的呢？具体的提示信息有哪些？使用TI的例程测试了么？
，但是Test connection 测试连接成功，烧录时提示芯片未应答，或都芯片锁住，但是几块板都是一样，我相信不是芯片问题！ 现在无头绪，求思路
jd9945：
回复 Seven Han:
不是， 是自己做的板子！ 例子可以烧录到其他的项目的板子，
error connecting to the target:
(Error -1015 @ 0x0)
Device is not responding to the request.Device may be locked, or the debug probe connection may be unreliable. Unlock the device if possible (e.g. use wait in reset mode, and power-cycle the board). If error persists, confirm configuration and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK).
(Emulation package 7.0.100.0)
，但是Test connection 测试连接成功，烧录时提示芯片未应答，或都芯片锁住，但是几块板都是一样，我相信不是芯片问题！ 现在无头绪，求思路
jd9945：
回复 jd9945:
这是test connection 的结果
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
All of the values were scanned correctly.
The JTAG IR Integrity scan-test has succeeded.
—–[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]————————
This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.
Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xFE03E0E2.
Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x01FC1F1D.
Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x5533CCAA.
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
All of the values were scanned correctly.
The JTAG DR Integrity scan-test has succeeded.
[End: Texas Instruments XDS100v3 USB Debug Probe_0]
，但是Test connection 测试连接成功，烧录时提示芯片未应答，或都芯片锁住，但是几块板都是一样，我相信不是芯片问题！ 现在无头绪，求思路
Seven Han：
回复 jd9945:
您的板子和其他项目的板子原理图是一样的吗？您的工程在烧录其他项目的板子时，使用的ccs，仿真器等都是一样的吗？
，但是Test connection 测试连接成功，烧录时提示芯片未应答，或都芯片锁住，但是几块板都是一样，我相信不是芯片问题！ 现在无头绪，求思路
Seven Han：
回复 jd9945:
很高兴您能够找到问题！
