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ADS5282: ADS5282通过 LVDS TEST PATTERNS 模式输出波形有杂波现象?

Part Number:ADS5282Other Parts Discussed in Thread: THS4552

异常现象:ADS5282 芯片通过单端SINE信号输入,FPGA读取数据感觉芯片正常工作。但是通过 LVDS TEST PATTERNS进行数据验证, FPGA读取数据偶尔基本正常。板子测试中,发现重启后FPGA读取数据偶尔正常,偶尔在正常波形上某时刻会叠加一个杂波噪声?例如 LVDS TEST PATTERNS设置阶梯波形输出,但是连续升高或下降阶梯波形变化下,偶尔在某阶梯出现一次特别高跳变,然后下阶波形就恢复了。

FPGA读取数据功能,我们通过信号发生器输出波形在FPGA端验证基本都是正常的。

验证方法:用信号发生器产生1MHz和250KHz的正弦波验证

想咨询下这种情况,有可能是什么原因?通过什么方式可以改善?    

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您好,

已经收到了您的案例,调查需要些时间,感谢您的耐心等待。

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Vivian Gao:

使用2Vpp正弦波输入时,偏置电压需要为1.5V。正弦波信号设置参数:频率:1Mhz振幅:2Vpp偏置电压:0mV除非你的输入端是交流耦合的。你的测试设置有图纸或框图吗?

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XING CUI:

Hi, Vivian Gao

      我的电路设计为多路模拟信号通过差分芯片(TITHS4552)生成ADC5282差分输入信号,进行ADC转换后进行FPGA并行读取。

                        上图差分信号生成电路采用TITHS4552IPWT芯片

ADC5882芯片偏置电路作为TITHS4552作为此VOCM1输入(common-mode voltage input )。

信号输出信号进入G_AIN(VIN1- ),如果这样信号发生器测试还需要偏置电压吗?

测试中,发现差分电路中C1215和C1216在话,信号噪音很大,后来电气组将其去除。

                   上图ADC控制电路设计采用单端输入

我是做软件的,电气不是特别明白。我认为此电路差分芯片THS4552IPWT输出信号应该是DC耦合直接ADC5282芯片的,上面电路还需要增加AC耦合电路到ADC5282?

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Vivian Gao:

我们再帮您看一下,等待我们的回复。

,

Vivian Gao:

如果您计划进行直流耦合,则THS4552放大器电路不正确。请将此图片展示给您的硬件工程师,以便对电路进行适当的更新。

至于示波器捕获的正弦波噪声,这是由于ADC中的内部采样开关造成的。这个正弦波看起来很嘈杂,但ADC会及时对信号进行适当的采样。从FPGA,你能把这些样本输入Matlab或其他软件程序来显示FFT或时域图吗?这也会有所帮助。

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