TI中文支持网Part Number:ADS1299
您好
我们在使用ADS1299芯片进行阻抗测量，使用一个500k电阻进行测试，使用N作为输入端时可以正常测量出阻抗，电路连接如下
其中P端未使用，通过芯片内部SRB2连接作为参考电极；
但当我们改变接线方式，使用P端作为输入时，测量500k电阻得到的阻抗值约为21000，与实际值相差过大，电路连接如下
其中N端未使用，通过芯片内部SRB1连接作为参考电极；
我们验证过正常测量信号时均正常，只有在测量阻抗时存在较大的差异，请帮忙分析一下
Daniel：
您好
在进行交流阻抗测量时，如果使用ADS1299的N端（负极）与P端（正极）测量得到的结果偏差很大，这可能是由于多种因素导致的。以下是一些可能的原因和相应的解决策略：
可能的原因
寄生参数的影响：
器件的引线会产生不希望的串联电阻和电感，器件的两端会存在寄生的并联电阻和寄生电容。这些寄生参数在交流信号下会对测量结果产生影响，导致测量偏差。
特别是当频率较高时，寄生参数的影响更为显著。测试信号的精度和稳定性：
如果测试信号的精度不高或稳定性差，比如信号源本身存在偏差或噪声，那么测量结果也会受到影响。
ADS1299的内部设置和校准：
ADS1299的阻抗测量功能可能受到其内部设置的影响，如偏置电流、增益设置等。如果设置不当，可能会导致测量结果偏差。
另外，ADS1299的校准状态也会影响测量结果。如果设备未经过适当的校准，或者校准参数已过时，那么测量结果可能会出现偏差。外部环境的干扰：
外部电磁干扰、电源波动等环境因素也可能对测量结果产生影响。
解决策略
优化测试信号：
确保测试信号的精度和稳定性。使用高质量的信号源，并尽量减小信号源与待测设备之间的连接长度和复杂度。
在可能的情况下，使用差分信号来减小共模干扰。检查并调整ADS1299的设置：
仔细阅读ADS1299的数据手册，了解其阻抗测量的相关设置和校准要求。
根据需要调整偏置电流、增益等设置，确保它们适合当前的测量任务。
如果可能的话，使用设备提供的校准功能或外部校准工具对ADS1299进行校准。减小寄生参数的影响：
尽量缩短测试引线的长度，并使用高质量的连接线材。
在可能的情况下，使用屏蔽线或同轴电缆来减小电磁干扰。
在测试过程中，注意避免将待测设备与其他电子设备靠得太近，以减少相互之间的干扰。改善测试环境：
将测试设备放置在稳定、无干扰的环境中。
使用适当的接地措施来减小电源波动和电磁干扰的影响。进行重复测试和验证：
在不同的条件下进行多次测试，以验证测量结果的稳定性和可靠性。
如果可能的话，使用其他测量设备或方法对同一待测设备进行测量，以比较和验证ADS1299的测量结果。
