TI中文支持网Part Number:TMS320F280039
在使用内置ADCC进行采样转换的时候，一共使用了8个通道输入，最后采样电压快速变化上升的时候，发现寄存器读出来的值，存在波动
，正常的采样应该是这样子的
。在更换了ADC的SOC通道（将ADC_SOC_NUMBER8,改成ADC_SOC_NUMBER10）次序的时候，发现该异常可以修复，但是又导致了，另外一个ADC的转换通道的数据出现该异常，
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麻烦贵司能够测试一下，查找出该问题的原因，在芯片前的采样电压输入我们已经测量过了，无异常，是正常的上升，不会出现明显的波动问题
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Yale Li：
在几个芯片上遇到了这个问题？
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F280039的芯片都有这个问题
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Yale Li：
方便上传一下ADC以及SOC的相关配置吗？
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可以。ADCC的转换通道一共用了8个：
ADC_CH_ADCIN2————————————-ADC_SOC_NUMBER2；
ADC_CH_ADCIN5————————————ADC_SOC_NUMBER10（有明显问题）
ADC_CH_ADCIN4————————————ADC_SOC_NUMBER4
ADC_CH_ADCIN8————————————ADC_SOC_NUMBER5 (8)（有明显问题）
ADC_CH_ADCIN14———————————–ADC_SOC_NUMBER6
ADC_CH_ADCIN0————————————–ADC_SOC_NUMBER0
ADC_CH_ADCIN1—————————————ADC_SOC_NUMBER1
ADC_CH_ADCIN3————————————–ADC_SOC_NUMBER0
原本的计划是使用ADCINC(n)对应ADC_SOC_NUMBER（n）的，但是出现了这些转换通道明显异常，因此只能不断调整SOC的次序，调整过后，转换偏差没有那么大，但是还是存在，正如前面发的图片
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Yale Li：
偏差值有多大？
请参考一下这篇文档：zhcacf7a_缓解 ADC 存储器串扰的方法 (Rev. A)
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只能在硬件上进行改善吗
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Yale Li：
也可以软件上做校准，加偏置
