TI中文支持网Part Number:AWR2243
通过使用TESTPATTERN函数，可以测试LVDS接口，通过测试发现，AWR2243的四个LVDS数据通道中，有两个通道的数据会出现不正常的现象。
我在代码中设置的是四个通道，IQ均输出固定数据 5A5A,但是实际输出的数据在通道1和通道2在通过FPGA解析之后会出现两种固定错误值，一种是2D2D，一种是B4B4，通道3和通道4数据正常，通过示波器捕捉LVDS通道1和通道2实际输出的数据，发现确实数据异常，并且异常值和FPGA解析的相同，请问是什么原因会导致这种现象，是否和LVDS的PCB布局走线有关。
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Chris Meng：
你好，
单独一个LVDS数据通道能否测试一下? 也就是能否仅使能通道1或者通道2，Test patteren也只配置RX0或者RX1，然后在AWR2243端测量一下LVDS信号，看输出是否正常?
