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OPA4197IPW芯片运放通道特别容易损坏

如上图所示,使用OPA4197I组成4通道50倍信号放大电路(上图是一个通道电路,其它3个通道电路完全相同),芯片在使用过程中经常莫名其妙的出现某个通道损坏(损坏的通道号没有规律,不是4个通道同时损坏),比例还非常高。运放输入信号源为ICP加速度传感器,输入信号源信号上加载了一个4mA的恒流源电路。放大电路信号输出给ADC芯片,供电采用+/-5.0V供电。4197I输入和输出使用电容隔直。不知道为何容易损坏,非常苦恼。请大神们不吝赐教,非常感谢!

Fengtai Chen:

如上图所示,使用OPA4197I组成4通道50倍信号放大电路(上图是一个通道电路,其它3个通道电路完全相同),芯片在使用过程中经常莫名其妙的出现某个通道损坏(损坏的通道号没有规律,不是4个通道同时损坏),比例还非常高。运放输入信号源为ICP加速度传感器,输入信号源信号上加载了一个4mA的恒流源电路。放大电路信号输出给ADC芯片,供电采用+/-5.0V供电。4197I输入和输出使用电容隔直。不知道为何容易损坏,非常苦恼。请大神们不吝赐教,非常感谢!

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Amy Luo:

您好,
感谢您对TI产品的关注!关于运放的损坏,您是怎样判断运放损坏的?

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Fengtai Chen:

损坏通道输入加载信号,但运放输出没有信号输出。而同一颗芯片的其它正常通道信号放大正确输出,加载的输入信号源为同一个。

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Fengtai Chen:

更换了芯片4197后,所有损坏通道工作正常

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Amy Luo:

损坏前运放是否正常工作?您有用示波器测量运放输入和输出管脚波形幅值吗
正常工作了多长时间?损坏概率大概多少?
您可以测量损坏运放各管脚对地阻抗吗,看下哪个管脚存在异常?
您的输出是直接连接到ADC了吗,运放与AD之间是否存在转接接口?

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