TI中文支持网最近在阅读TI的《运算放大器稳定性分析(TI合集)》时，在page49有这样一句话：
– 通常最坏情况是当Voffset=0时→ 最大运放RO值 (IOUT=0)
有几个疑问：
1、本书提及到Ro（开环输出阻抗）在运放增益带宽以内通常为constant，且为纯电阻。请问Ro是真实存在的还是为了分析而等效的一个阻值？
2、Ro为何会随输出电流Iout的增大而减小？
我知道在使用书中的方法测量Ro时，必须在Iout=0时才能测量到尽量准确的Ro，否则会因为Iout的存在使得测量的Ro偏小。但是Iout只是在测量Ro时影响Ro，在实际运用和仿真中，Ro为何也会随Iout变大而减小。举个例子，一个运放在驱动一个空载的容性负载CL时是不稳定的，难道给电容加一个负载电阻反而可能会稳定？因为RL导致Iout增大，Ro减小，Ro和CL形成的极点变大了？
Amy Luo：
您好，
1、理想运放的输出阻抗为0 ，人们追求的也是0，这样带负载能力会强，但实际上不为0 ，其开环输出阻抗应该是等效电阻。
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toapex：
多谢。
关键还是不懂Ro最差是在Iout=0的时。
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Amy Luo：
您是说为什么在Iout=0时，Ro最大吗？您可以查看Tim Green写的运算放大器的稳定性第3部分中的图3.16: 测量 RO -负载法计算过程，如下截图 2），如果当Iout-=0时，Ro是无穷大的
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toapex：
恕我水平太菜。
如果Iout=0才测出最大Ro，为啥RL不选一个大一点的，这样Iout不是越小吗？
现实应用中如何保证Iout尽量小呢？我总觉得这个Iout是一个直流分量，不是交流部分。
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Amy Luo：
RL值的选择是以不会造成大电流流入或流出运放输出端为准。
现实应用中为什么保证Iout尽量小呢？对于选择功率运放，输出电流越大驱动能力越强，不是才越好吗
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toapex：
谢谢，可能是我表达的不够清楚。
不过继续往下阅读，这个疑惑已经解开了。书中解释了为什么Iout=0时Ro最大了，和运放内部的电路种类有关。比如双极性的射极跟随输出的运放书中有这样一段话：
对于大多数放大器而言，放大器输出端空载时，输出级的 AB 类偏置电流约为整个放大器静态电流的 ½。双极晶体管的 RO 与 1/gm 成正比，其中 gm 为晶体管的电流传输比(current transfer ratio)或电流增益。由于 gm 与集电极电流 IC 成正比，因而 RO 与 IC 成反比。当 IC 从空载输出电流向满负载输出电流增加时，RO 将会降低。这可能会使人有这样的推测，即当输入电流高到一定极限时 RO 将为零。然而，由于晶体管的物理特性、内部驱动以及偏置排列 (bias arrangement) 等原因，上述推测不成立。我们将测量最高可用负载电流下的 RO 值，并把它定义为 RX。然后测量空载电流下的 RO 值，并得出给定放大器电路的常数 KZ，该常数可用于预测任何负载电流下的 RO 变化情况…..
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Amy Luo：
感谢您的分享和反馈~
