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F28M35H52C1的FLASH启动疑受温度影响

目前有一批搭载F28M35H52C1的产品板,3.3V,1.8V采用外部供电,1.2V采用内部供电,Boot Mode引脚采用10K上拉,XRS和ARS复位信号采用电源监控芯片提供约200ms复位,驱动程序基于Controlsuite V3.4.9内的V220无操作系统版本。大部分目前功能正常,但其中小部分出现FLASH启动不正常的故障,具体表现为:

  • 功能正常的电路板使用热风枪对芯片区域从低温到高温段加温,均能正常启动运行程序;
  • 小部分板在加温至约45℃-55℃区间时,表现为心跳灯不能闪烁,外部通信及其他IO动作均无反应,应为程序未正常工作;
  • 启动正常与否电路板的电源轨、复位信号均无明显差别;
  • 此小部分温度区间不能正常工作的电路板,在低于区间温度下限,或高于区间温度上限,通电能正常启动;
  • 此小部分温度区间不能正常工作的电路板,在不能正常启动时,观测晶体X1,X2的信号,均有与正常启动时无明显异常的振荡波形出现;
  • 将正常启动的电路板上晶体与不能正常启动板上的晶体进行互换,原正常启动板在加温状态下仍能正常启动,不能正常启动板更换晶体后仍出现在加温状态下不能正常启动;故初步判断不能正常启动主因在芯片,与晶体振荡电路关系不大;
  • 此小部分温度区间不能正常工作的电路板,有个别的区间温度下限低至36℃,后续验证均通过此板进行;
  • 为验证M3或C28的原因导致不能正常启动,将M3侧的BOOT DSP FLASH程序取消,在PinoutSet函数后即开始输出GPIO测试信号,加温后或多次启动后非加温状态偶尔出现GPIO测试信号不能输出的问题,故可判定程序上电运行不正常与M3侧有直接关系;
  • 在ResetISR函数中增加NOP空指令,仍出现不能正常启动的情况;
  • 在ResetISR函数中增加NOP空指令后跳转至main之前马上执行GPIO测试信号输出函数,仍出GPIO现测试信号不能正常输出的情况;此时应可判定确实为上电程序运行不正常;
  • 此种条件下使用仿真器进行调试运行,基本能正常工作;
  • 请问有何进一步手段可以定位根本原因?

Green Deng:

你好,你能确认芯片各部分的焊接没有问题吗?如果焊接不存在问题的话可能确实跟芯片本身有关,这样的话建议你直接前往英文E2E论坛发帖咨询售后,因为中文论坛不能处理售后问题。以下是英文E2E链接,需要使用英文发帖,另注意有时差延时。可能需要附带你的采购信息:
e2e.ti.com/…/171

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