TimerA0 溢出中断的问题

首先看两个程序：

1》

#include  <msp430x14x.h>

void main(void)
{
  WDTCTL = WDTPW + WDTHOLD;                 // Stop WDT
  P2DIR |= 0x0f;
  P2OUT |= 0x0f;
  TACTL = TASSEL_1 + MC_2+TAIE;         // ACLK, contmode, interrupt
  CCR0=50000; 
  CCTL0=CCIE;                     

  _BIS_SR(LPM3_bits + GIE);                 // Enter LPM3 w/ interrupt
}

#pragma vector=TIMERA0_VECTOR
__interrupt void Timer_A0(void)

{
P2OUT ^= 0x01;
}

这个程序运行的结果是1.52S的高电平，0.5S的低电平，说明CCR0=50000的时候产生了一个比较中断CCIFG，运行了一次中断，然后定时器一直计数到65535又产生了一个溢出中断TAIG，又运行了一次中断，如此重复，分析没有问题吧

2》

#include  <msp430x14x.h>

void main(void)
{
  WDTCTL = WDTPW + WDTHOLD;                 // Stop WDT
  P2DIR |= 0x0f;
  P2OUT |= 0x0f;
  TACTL = TASSEL_1 + MC_2+TAIE;         // ACLK, contmode, interrupt
                                                                           去掉了CCRO的比较中断                  

  _BIS_SR(LPM3_bits + GIE);                 // Enter LPM3 w/ interrupt
}

#pragma vector=TIMERA0_VECTOR
__interrupt void Timer_A0(void)

{
P2OUT ^= 0x01;
}

这个只有溢出中断TAIE，运行结果应该是2S高电平，2S低电平，但是我的测试结果是一直为低电平，这是什么原因？

alan yao：

第二个程序测试的结果一直为高电平，我写错了

alan yao：

如果说溢出中断TAIE需要在TimerA1 的TAIV才能执行，那么第一个程序的结果就应该是2S 高电平，2S低电平才对？