TI中文支持网大家好！LZ最近在做一个实时位置控制的case。
其中28335片内AD采样是这样做的：
在定采样周期中断触发后，对同一通道（先不做控制，被测量是静态不变化的）不间断连续采集多个值（CONV都设为同一通道，一次顺序采集）后，去掉最大和最小，再均值。
发现这样得到的平均值结果，其跳码幅度较大，有3~4个毫伏之多。（测量的量是在开发板上的电阻分压电路，adc时钟降到12.5MHz，采样窗口开最大到0xf）
而换成定周期触发AD采样一次仅一个值，多周期后求平均，这时的结果就能稳定在1个毫伏的变化内。（ADC时钟25MHz）
这样我是猜想AD对某一通道不间断连续采样是不是会对采样值带来干扰？为什么会有干扰？
想减轻这样的干扰，除了增加对某一通道连续采样的间隔时间，还有什么好方法？（毕竟实时控制下，ADC能兼顾速度和精度是最好了）加一级电压跟随可不可行？
LZ知道28335ADC的12位精度实际是达不到的，多大的跳码幅度属于正常？
希望各位大侠解答我的疑问
mangui zhang：
从硬件上来看 加一级电压跟随 对精度没什么影响 只会带来直流增量
只要保证ADC转换完成后 在进行下一次转换 这样结果不会应始终而影响过大
我建议你确保输入端的信号没有毫伏级的变化
大家好！LZ最近在做一个实时位置控制的case。
其中28335片内AD采样是这样做的：
在定采样周期中断触发后，对同一通道（先不做控制，被测量是静态不变化的）不间断连续采集多个值（CONV都设为同一通道，一次顺序采集）后，去掉最大和最小，再均值。
发现这样得到的平均值结果，其跳码幅度较大，有3~4个毫伏之多。（测量的量是在开发板上的电阻分压电路，adc时钟降到12.5MHz，采样窗口开最大到0xf）
而换成定周期触发AD采样一次仅一个值，多周期后求平均，这时的结果就能稳定在1个毫伏的变化内。（ADC时钟25MHz）
这样我是猜想AD对某一通道不间断连续采样是不是会对采样值带来干扰？为什么会有干扰？
想减轻这样的干扰，除了增加对某一通道连续采样的间隔时间，还有什么好方法？（毕竟实时控制下，ADC能兼顾速度和精度是最好了）加一级电压跟随可不可行？
LZ知道28335ADC的12位精度实际是达不到的，多大的跳码幅度属于正常？
希望各位大侠解答我的疑问
mangui zhang：
还有 ADC 采集的结果做滤波处理是有必要的
大家好！LZ最近在做一个实时位置控制的case。
其中28335片内AD采样是这样做的：
在定采样周期中断触发后，对同一通道（先不做控制，被测量是静态不变化的）不间断连续采集多个值（CONV都设为同一通道，一次顺序采集）后，去掉最大和最小，再均值。
发现这样得到的平均值结果，其跳码幅度较大，有3~4个毫伏之多。（测量的量是在开发板上的电阻分压电路，adc时钟降到12.5MHz，采样窗口开最大到0xf）
而换成定周期触发AD采样一次仅一个值，多周期后求平均，这时的结果就能稳定在1个毫伏的变化内。（ADC时钟25MHz）
这样我是猜想AD对某一通道不间断连续采样是不是会对采样值带来干扰？为什么会有干扰？
想减轻这样的干扰，除了增加对某一通道连续采样的间隔时间，还有什么好方法？（毕竟实时控制下，ADC能兼顾速度和精度是最好了）加一级电压跟随可不可行？
LZ知道28335ADC的12位精度实际是达不到的，多大的跳码幅度属于正常？
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Yuting Liu：
这是我采集的代码，单通道连续采依然没有改善：
double ADC_SingleCH(Uint16 channel){ int res[SAMPLE_NUM] = {0}; int i; AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; // 1 Cascaded mode //AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 0; Start and stop AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 1; // Enable Sequencer override feature,warp around AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = channel; // Initialize all ADC channel selects to A0 AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV01 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV02 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV03 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ2.bit.CONV04 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ2.bit.CONV05 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ2.bit.CONV06 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ2.bit.CONV07 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ3.bit.CONV08 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ3.bit.CONV09 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ3.bit.CONV10 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ3.bit.CONV11 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ4.bit.CONV12 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ4.bit.CONV13 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ4.bit.CONV14 = channel; AdcRegs.ADCCHSELSEQ4.bit.CONV15 = channel; AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = SAMPLE_NUM – 1; // convert and store in 8 results registers AdcRegs.ADCTRL2.all = 0x2000; //start convert while (AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1== 0){} AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1; AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1; for (i=0;i<SAMPLE_NUM;i++){ res[i]= *(&(AdcRegs.ADCRESULT0)+i)>>4; } return ADC_Filter(res);}
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其中28335片内AD采样是这样做的：
在定采样周期中断触发后，对同一通道（先不做控制，被测量是静态不变化的）不间断连续采集多个值（CONV都设为同一通道，一次顺序采集）后，去掉最大和最小，再均值。
发现这样得到的平均值结果，其跳码幅度较大，有3~4个毫伏之多。（测量的量是在开发板上的电阻分压电路，adc时钟降到12.5MHz，采样窗口开最大到0xf）
而换成定周期触发AD采样一次仅一个值，多周期后求平均，这时的结果就能稳定在1个毫伏的变化内。（ADC时钟25MHz）
这样我是猜想AD对某一通道不间断连续采样是不是会对采样值带来干扰？为什么会有干扰？
想减轻这样的干扰，除了增加对某一通道连续采样的间隔时间，还有什么好方法？（毕竟实时控制下，ADC能兼顾速度和精度是最好了）加一级电压跟随可不可行？
LZ知道28335ADC的12位精度实际是达不到的，多大的跳码幅度属于正常？
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Yuting Liu：
回复 mangui zhang:
mangui zhang
从硬件上来看 加一级电压跟随 对精度没什么影响 只会带来直流增量
只要保证ADC转换完成后 在进行下一次转换 这样结果不会应始终而影响过大
我建议你确保输入端的信号没有毫伏级的变化
大家好！LZ最近在做一个实时位置控制的case。
其中28335片内AD采样是这样做的：
在定采样周期中断触发后，对同一通道（先不做控制，被测量是静态不变化的）不间断连续采集多个值（CONV都设为同一通道，一次顺序采集）后，去掉最大和最小，再均值。
发现这样得到的平均值结果，其跳码幅度较大，有3~4个毫伏之多。（测量的量是在开发板上的电阻分压电路，adc时钟降到12.5MHz，采样窗口开最大到0xf）
而换成定周期触发AD采样一次仅一个值，多周期后求平均，这时的结果就能稳定在1个毫伏的变化内。（ADC时钟25MHz）
这样我是猜想AD对某一通道不间断连续采样是不是会对采样值带来干扰？为什么会有干扰？
想减轻这样的干扰，除了增加对某一通道连续采样的间隔时间，还有什么好方法？（毕竟实时控制下，ADC能兼顾速度和精度是最好了）加一级电压跟随可不可行？
LZ知道28335ADC的12位精度实际是达不到的，多大的跳码幅度属于正常？
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Yuting Liu：
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