有关STK_C6657工程包中的问题

你好！

请问以下几个函数有什么作用

.global Asm_LDDW_Test
.global Asm_STDW_Test
.global Asm_LDW_Test
.global Asm_STW_Test

Andy Yin1：

测试相关汇编指令功能的函数。你这是在例程中具体哪个文件看到的，我没印象STK中有这些函数。

lixiaosheng lixiaosheng：

回复 Andy Yin1:

我知道是汇编测试代码，想知道这个函数的功能。

附代码DSP_core_access_Test.asm：

 .global Asm_LDDW_Test

.global Asm_STDW_Test .global Asm_LDW_Test .global Asm_STW_Test

.asg A16, A16_Index .asg B0, B0_Cnt;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;Asm_LDDW_Test(srcBuff, uiIndex, uiCount);Asm_LDDW_Test:

SUB A6, 5, B0_Cnt MV B4, A16_Index

[B0_Cnt] B LoadTestLoop || LDDW *A4++[A16_Index], A31:A30

[B0_Cnt] B LoadTestLoop || LDDW *A4++[A16_Index], A31:A30

[B0_Cnt] B LoadTestLoop || LDDW *A4++[A16_Index], A31:A30

[B0_Cnt] B LoadTestLoop || LDDW *A4++[A16_Index], A31:A30

[B0_Cnt] B LoadTestLoop || LDDW *A4++[A16_Index], A31:A30

LoadTestLoop: [B0_Cnt] B LoadTestLoop || LDDW *A4++[A16_Index], A31:A30 ||[B0_Cnt] SUB B0_Cnt, 1, B0_Cnt

NOP NOP NOP NOP NOP NOP

BNOP B3, 5;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;Asm_STDW_Test(srcBuff, uiIndex, uiCount);Asm_STDW_Test:

SUB A6, 5, B0_Cnt MV B4, A16_Index

[B0_Cnt] B StoreTestLoop || STDW A31:A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B StoreTestLoop || STDW A31:A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B StoreTestLoop || STDW A31:A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B StoreTestLoop || STDW A31:A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B StoreTestLoop || STDW A31:A30, *A4++[A16_Index]

StoreTestLoop: [B0_Cnt] B StoreTestLoop || STDW A31:A30, *A4++[A16_Index] ||[B0_Cnt] SUB B0_Cnt, 1, B0_Cnt

NOP NOP NOP NOP NOP NOP

BNOP B3, 5;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;Asm_LDW_Test(srcBuff, uiIndex, uiCount);Asm_LDW_Test:

SUB A6, 5, B0_Cnt MV B4, A16_Index

[B0_Cnt] B LDWTestLoop || LDW *A4++[A16_Index], A30

[B0_Cnt] B LDWTestLoop || LDW *A4++[A16_Index], A30

[B0_Cnt] B LDWTestLoop || LDW *A4++[A16_Index], A30

[B0_Cnt] B LDWTestLoop || LDW *A4++[A16_Index], A30

[B0_Cnt] B LDWTestLoop || LDW *A4++[A16_Index], A30

LDWTestLoop: [B0_Cnt] B LDWTestLoop || LDW *A4++[A16_Index], A30 ||[B0_Cnt] SUB B0_Cnt, 1, B0_Cnt

NOP NOP NOP NOP NOP NOP

BNOP B3, 5;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;Asm_STW_Test(srcBuff, uiIndex, uiCount);Asm_STW_Test:

SUB A6, 5, B0_Cnt MV B4, A16_Index

[B0_Cnt] B STWTestLoop || STW A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B STWTestLoop || STW A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B STWTestLoop || STW A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B STWTestLoop || STW A30, *A4++[A16_Index]

[B0_Cnt] B STWTestLoop || STW A30, *A4++[A16_Index]

STWTestLoop: [B0_Cnt] B STWTestLoop || STW A30, *A4++[A16_Index] ||[B0_Cnt] SUB B0_Cnt, 1, B0_Cnt

NOP NOP NOP NOP NOP NOP

BNOP B3, 5;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;