TI中文支持网之前遇到了6678LE的XDS560v2不能用的问题，详情见https://e2echina.ti.com/question_answer/dsp_arm/c6000_multicore/f/53/t/174853
使用6678LE自带的XDS100仿真器报错（XDS560的仿真器板已经拆下来了），请问是板子的仿真器模块坏了吗？可以检测到XDS100的串口。
qhao在https://e2echina.ti.com/question_answer/dsp_arm/c6000_multicore/f/53/t/174853里建议我量一下DSP JTAG各个信号是否正常，但是我不知道如何操作
检测到串口如下：
配置如下：
testconnection错误：
—–[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]————————
This test will use blocks of 64 32-bit words.
This test will be applied just once.
Do a test using 0xFFFFFFFF.
Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
Do a test using 0x00000000.
Test 2 Word 0: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
…
Test 2 Word 7: scanned out 0x00000000 and scanned in 0xFFFFFFFF.
The details of the first 8 errors have been provided.
The utility will now report only the count of failed tests.
Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 1
Do a test using 0xFE03E0E2.
…
Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 4
Do a test using 0xAACC3355.
Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 5
Some of the values were corrupted – 83.3 percent.
The JTAG DR Integrity scan-test has failed.
[End: Texas Instruments XDS100v1 USB Debug Probe_0]
debug错误：
IcePick_D: Error connecting to the target: (Error -2131 @ 0x0) Unable to access device register. Reset the device, and retry the operation. If error persists, confirm configuration, power-cycle the board, and/or try more reliable JTAG settings (e.g. lower TCLK). (Emulation package 6.0.222.0)
user6041600：
回复 Shine:
请问是这样设置吗 我还没有尝试过调整这些具体参数
user6041600：
回复 Shine:
hey Shine ,
能帮我看下TCLK频率是这样设置的吗，按照图片设置之后还是有相同的错误，这种情况下，是否是JTAG电路坏了？
Shine：
回复 user6041600:
JTAG口上的信号正确吗？
user6041600：
回复 Shine:
Shine，
我测试了电路上JTAG电路的电压，有两处应该为1.8V的地方电压为0，也有一些应为高电平的位置也有很多为0。但是我随便测了一块不是JTAG位置的电压，1.8V是正常的，不知道是JTAG电路坏了还是受到了别的部分的影响。
板子应该是坏了，我很无奈，具体哪里坏了还需要排查（虽然我也不会修），接下来只能做软件测试了。
但是非常感谢你的耐心回复！给我绝望的调试带来一点光明lol~
June
Shine：
回复 user6041600:
找Advantech公司去问问看能不能修。
