一直很担心当外部电压超过3V或者低于0V时会把DSP28335的IO口击穿,毕竟实际中电压电流传感器采集到并作AD转换输入DSP的波形的尖峰毛刺比较多,由于担心漂移非线性的因素也没在传感器输出端加射极跟随器和限幅电路,只用了一个3V左右的普通稳压二极管,28335的ADC采样口的耐受能力怎么样?这方面大家有什么经验?有因为传感器出来的尖峰把DSP采样口击穿的情况吗?
TMS320F28335的ADC模块输入I/O口的击穿问题
未经允许不得转载:TI中文支持网 » TMS320F28335的ADC模块输入I/O口的击穿问题
相关推荐
- LAUNCHXL-F280049C: C2000WARE中提供的ePWM样例代码debug时ecap部分出现波形异常+ADC采集异常
- TMS320F28335: ECAP检测
- TMS320F28335: ECAP检测到错误脉冲
- TMS320F28335: ccs程序封装成lib
- TMS320F28335: 程序时钟不一致
- TMS320F28335: CCS Theia 如何使用XDS100V3 调试 TMS320F28335,如何添加新的调试配置
- TMS320F28335: 将定点类型的FFT改为浮点FFT
- TMS320F28335: DSP不是并行运算的,epwm模块计数模式选好后,运行主程序时,DSP如何实现epwm模块计数的