最近在使用此款N25Q256QA13EF840 FLASH芯片，共制作了6块单板，该FLASH芯片作为FPGA的程序存储器。其中有一块单板上的FLASH芯片，在进行-40~60℃高低温试验时，发现该单板在低温下不启动，温度恢复至常温依然不启动，使用FPGA下载线读取FLASH中存储的FPGA程序，发现其中一个bit位出现了位翻转现象，从0变为了1，从而导致单板程序不启动，将程序重新烧写后，常温下可正常启动，再次做高低温试验，此次是高温下出现了位翻转，请教下大家，这种现象如何解释，该从哪里下手解决？
这边是TI的无线版块，请发布到正确的板块，会有相应工程师为你解答
回复 Viki Shi:
好的
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