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CC1310高温测试串口乱码问题

我们采用10ppm的晶振,5*5的CC1310芯片。放进温箱做老化试验,串口采用115200波特率,温度到70度以后,会出现串口乱码的问题,但无线收发正常。拿出来降温之后恢复正常。板上器件均是工业级的,理论上85度以内不应该出现异常。现在出现的这个乱码问题有什么解决方向呢?

Albin Zhang:

user5780603

我们采用10ppm的晶振,5*5的CC1310芯片。放进温箱做老化试验,串口采用115200波特率,温度到70度以后,会出现串口乱码的问题,但无线收发正常。拿出来降温之后恢复正常。板上器件均是工业级的,理论上85度以内不应该出现异常。现在出现的这个乱码问题有什么解决方向呢?

user5780603:

回复 Albin Zhang:

1、我们使用两台机器,一台放温箱,天线引出,做为从机;另一台放在外面连接计算机,做为主机;进行无线通讯,无线通讯未见异常;
2、我们没有重启,但是降温能恢复;
3、我们采用局部加热的方法,发现晶振加热到一定程度(<100摄氏度)会乱码,甚至出现死机,降温能恢复;但是我们类似的晶振用在STM32上不会出现乱码的问题。

Albin Zhang:

回复 user5780603:

你重启一下看看会不会改善。

另外,可以测试一下射频性能,比如频偏。

BR. AZ

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