TI中文支持网Hi，我现在在用2640采集LMT70的温度，但是采集的结果有问题，在恒定温度环境下（恒温水槽）每个采集点的温度跳动很大，然后不同板子之间采集的结果相差也是比较大的。我想知道这是为什么，有什么方法可以改善吗？
比如37度环境下，单个板子采集温度的结果，经常出现0.5度以上的浮动
而不同板子之间，出现的测量结果也不相同，看起来会有整体的偏移。如下表结果
模块1、2带有薄外壳，模块3没有外壳直接封上导热硅胶；然后3个模块一起放在恒温水槽内测试温度。通过温升曲线，我能基本推断出外壳对温升影响不大（20秒左右基本能在温差十几度的情况下达到温度稳定）。然后每个温度点，都是10次采样取平均的结果，间隔时间为5s
| 设定温度 | 模块1 | 模块2 | 模块3 |
| 35.50 | 35.17 | 34.68 | 35.32 |
| 35.30 | 34.78 | 35.24 | |
| 35.06 | 34.78 | 35.29 | |
| 36.00 | 35.68 | 35.32 | 35.92 |
| 35.65 | 35.22 | 35.86 | |
| 35.70 | 35.22 | 35.78 | |
| 36.50 | 36.36 | 35.73 | 36.24 |
| 36.09 | 35.82 | 36.37 | |
| 36.29 | 35.69 | 36.36 | |
| 37.00 | 36.77 | 36.17 | 36.84 |
| 36.69 | 36.31 | 36.68 | |
| 36.73 | 36.35 | 36.77 |
da qin zheng sheng：
cc2640r2分辨率只有12位，可能的话平均采样次数可以再大些。
da qin zheng sheng：
回复 da qin zheng sheng:
另外lmt70测量的温度需要软件修正的。
xinggang zheng：
回复 Viki Shi:
嗯，谢谢！
我检测到了，CC2640R2F本身的ADC精度我测试出来大概10~11位有效，就最后1~2位变动。
在LMT70输出端加个滤波电路，结果好很多。
另外，我想问下，CC2640我对一个固定电压多次采样后发现，会有个固定偏差，使用ADC_convertRawToMicroVolts函数转换后的值，又过调了，请问每个设备，我都需要自己校准吗？
xinggang zheng：
回复 da qin zheng sheng:
你的意思是LMT70本身出的信号也会有偏差？需要我自己做温度校准来修正？那这就麻烦了欸
Viki Shi：
回复 xinggang zheng:
参考电压是否有差别？
The ADC supports two different internal references, one constant and one relative to VDDS.
The ADC automatically scales down the input signal to be within the reference range. It is possible to disable the scaling, but this requires great care by the user to ensure the maximum ratings in the data sheet are followed. With scaling enabled, the internal fixed reference looks like 4.3 V compared to the actual input level. With scaling disabled, the reference is 1.44 V.
xinggang zheng：
回复 Viki Shi:
我用的是内部的1.44V参考源，inputScalingEnabled设为false的
