上电后,在使用CCS调试时,板子使用的处理器为TMS470MF06607 ,调试器xds100v3和xds110都试过,也检查过程序没有问题。请问会是什么原因导致的?
调试时报错-233
The JTAG IR and DR scan-paths cannot circulate bits, they may be broken.An attempt to scan the JTAG scan-path has failed.The target's JTAG scan-path appears to be broken with a stuck-at-ones or stuck-at-zero fault.
Seven Han:
您好,
是否有看以下wiki链接:
processors.wiki.ti.com/…/Debugging_JTAG_Connectivity_Problems
faxin li:
回复 Seven Han:
您好,我截图,错误原因和链接描述的有区别,也检查了不是未上电
Seven Han:
回复 faxin li:
ok,希望帮助到您。
TI中文支持网



