TI中文支持网
TI专业的中文技术问题搜集分享网站

ISO1640: 器件测试方法

Part Number:ISO1640

你好,

我们准备对ISO1640BDR进行器件级测试,有相关测试方案资料提供么?看规格书测试条件有点不是很明白。

谢谢!

Kailyn Chen:

您好,抱歉我也没找到具体器件级测试的具体方案。

您看下这篇FAQ关于Patial Discharge局部放电 的测试(局部放电测试的目的是通过测量耦合器输出端的局部放电水平来验证耦合器输入和输出之间的绝缘性。 )对您有帮助吗?

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/1277285/faq-what-is-partial-discharge-method-a-method-b1-and-method-b2-tests

,

Chu Allen:

你好,

可以帮忙问问产品线么?

,

Kailyn Chen:

好的,器件级要做哪些测试,可以具体描述下,我这边帮您升级问问。

,

Chu Allen:

你好,

如下图,

V0和VI是什么电压?

这个测试条件怎么给?

,

Kailyn Chen:

好的,我去确认一下。

,

Kailyn Chen:

您好,我这边收到的回复是,黄色框您标注的是测试条件,测试电路也是datasheet中section 7部分的这些电路:

赞(0)
未经允许不得转载:TI中文支持网 » ISO1640: 器件测试方法
分享到: 更多 (0)