TI中文支持网Part Number:ADS131M08
我也碰到同样的问题，请教一下：
1. 测试DC test signal, 发现数值大小约0.127VREF，与datasheet上描述的2/15VREF相差较大，请问这个是什么原因？
2. 我们很清楚，严格的校准是需要校准整个信号链；但我们想尽可能减小ADC本身的long-term gain drift，延长设备的校准周期，是否可以通过检测DC test signal来换算增益校准系数来实现？
Amy Luo：
您好，
1、您使用的内部参考电压还是外部参考电压？使用的参考电压是多少？请确保使用的参考电压是稳定的、无干扰的。另外，供电电压是稳定的吗？是由线性电源供电吗？供电电压的纹波对输出的影响，使用PSRR参数评估。
2、您的意思是隔断时间校准一次增益误差? 看下面长期增益漂移曲线，WQFN Package的变化很没有趋势性，因此我认为这种方法不可行。
TQFP Package随着工作时间，增益误差整体趋势是越来越大的，因此我认为隔段时间校准一次可以改善增益误差。
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您好，
1. 我们使用的是线性电源，内部参考源1.2V电压，电源确定是稳定、干净无干扰的，纹波很小，LDO 3.3V。这个得到0.127VREF而不是2/15VREF不止是我们遇到过，看论坛上有类似帖子（e2echina.ti.com/…/ads131m04-39），原因不明；
2. 我们的设备属于高精密测量设备，运行要求比较高，要求整体信号链校准间隔时间180天，连续24小时不断电运行，但每天有空闲时间做电路内部自校准工作，因此对ADC器件的gain drift要求较高，我们希望用内部DC TEST SIGNAL 自动校准增益漂移，但不确定这个DC TEST SIGNAL的可靠性，可以做为增益误差或漂移校正的依据么？
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Amy Luo：
1、上述类似帖子链接不能打开，您可以重新附一遍吗？
外部输入已知DC电压可以准确测量吗？
2、看 Vref Drift与Gain Drift 参数最大值差不多，最大都是20ppm/℃；
长期漂移也差不多，这样看使用DC TEST SIGNAL校准意义不大。
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1. 请查看如下链接：https://e2echina.ti.com/support/machine-translation/mt-data-converters/f/mt-data-converters-forum/432958/ads131m04-39
2. 我们也留意到reference drift与Gain drift差不多，最大在20ppm/°C， 偏大一点，性能不是很好；因此我们是打算用外部性能比较好的Reference；
3. 因ADC内部的DC test signal是由ADC internal reference分压而来，这样是不是配置为内部reference使能，可以用这个DC test signal定期校准gain drift?
4. 在正常测量模式下，配置为外部性能较好的external reference使能。
5. 我们的应用中，一般只用到增益1.
请教几个问题：
1. 这种方式校准gain drift是否可行？
2. ADC的reference引脚同时连接external reference, ADC内部配置是否支持如上功能操作，外置的external reference芯片与ADC ref引脚之间是否需要放一切换开关？（ADC引脚同时连接到外部基准芯片会不会影响内部reference使能）
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Amy Luo：
感谢您提供的链接，看了链接中Ryan的回复，指出内部测试信号用于验证ADC的功能和性能，它不能用于校准整个信号链，也不能用于增益校准。
另外看下面帖子Dale回复，如果使用内部基准电压1.2V，基准电压会有一个衰减，即衰减1.2/1.25倍，实际基准电压应为1.2/1.25*1.2=1.152V。这样计算 DC test signal电压为153.6mV。另外，我猜测2/15这个比例应该也有误差，如下帖子Dale回复我们没有DC test signal的准确性的数据
ADS131M06: Accuracy of internal test signals
? ? said:2. ADC的reference引脚同时连接external reference, ADC内部配置是否支持如上功能操作，外置的external reference芯片与ADC ref引脚之间是否需要放一切换开关？（ADC引脚同时连接到外部基准芯片会不会影响内部reference使能
不用，可以使用如下寄存器位配置：
