MSP430F2121: MSP430F2121应用到晶振产品出现大的频率偏移，单片机信息丢失或被擦除，需协助分析原因，读取单片机信息显示为0。

单片机信息丢失或被擦除，需协助分析原因。

客户端失效现象：

刚开机时晶振输出频率为19.999992MHz，满足20MHz±10Hz的要求，工作一段时间后，晶振输出频率为20.000092MHz，不满足晶振输出频率范围，且在不停的变化。

分析晶振：

2、对产品进行温度特性测试，规格书要求温度特性≤0.5ppm，产品测试结果如下所示，产品在低温-8~5℃左右、常温35~50℃区间的频率出现大的波动，当温度超过50℃时频率恢复正常。

3、读取产品通信和内部单品的数据，产品通信正常，读取内部单片机补偿数据，发现有数据被擦除现象（红色框中数据变成0），下面是NG品和OK品图片：

NG品单片机信息：

OK品单片机信息：

NG的单片机重新写入数据后，产品温度特性频率正常。

OK品和NG品单片机各PIN脚阻抗测试，未发现阻抗有差异：

Cherry Zhou：

您好，您的问题我们需要升级到英文论坛寻求帮助，如有答复将尽快回复您，谢谢！

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Cherry Zhou：

您好，

DCO数据被擦除了吗？

您可以在操作Flash的时候试着检查VCC电压：

您也可以尝试使用以下示例来重新校准:

https://dev.ti.com/tirex/explore/node?node=A__APhdJxv8Nd0SgMY.nvR3Zg__msp430ware__IOGqZri__LATEST

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DCO您能详细说明是那些信息嘛？按照您的建议，在反复改单片机flash数据，读取VCC电压是3.3V，没有变化。

产品工作原理：客户使用时，MCU循环读取T-sensor温度T，根据T查表，读取flash数据确定补偿电压VCompensate，

VCXO输出补偿完成。

问题：产品在客户使用时，出现flash中的补偿数据被擦除，导致产品的频率温度特性异常。

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Johnson He：

FLASH的补偿数据是您那边自己写入的吗？

是在量产的时候写入的，还是说应用程序过程中写入的，这个失效率有多少？ 多少芯片遇到了这个问题？

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FLASH补偿数据是我司写入的，在量产的时候写入，在客户应用过程出现频率偏差大，分析失效故障是单片机信息被擦除，温度特性测试在某些温度频率跳变大，我们将OK的单片机信息按照异常品相同清除数据，失效现象是一样的。频率在某些温度变化，目前在客户应用27pcs，1pcs失效，失效率3.7%；

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Johnson He：

目前就这一颗失效的片子吗

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本次就出现一颗失效的，之前交货225pcs，也出现过5pcs失效（在低温出现异常），相当于出货了252pcs，有6pcs失效的，是在一个客户端失效，请帮助确认是什么原因？有那些可能导致这种失效？可以做失效分析吗？能否加微信或电话详细交流一下？

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客户端已经做了复现验证，请帮助确认：
 
试验条件如下图9.5ms低电平（断电时间）、0.5ms高电平（通电时间），测试几百次后，产品频偏，单片机数据被擦除，问题复现，
需要帮助确认单片机上电时序。