TI中文支持网Part Number:TRF7970A
1.1 问题背景
公司产品主机使用TI的RFID芯片TRF7970A，其功能用于读取主机配件的RFID标签序列号。其架构如下：
软件版本：基于《TRF7970AEVM》TI官网 2011年的代码移植。
1.2 问题现象
目前发现偶发读取芯片ID失败，故软件加了容错措施，如一次读取失败会重读，读的次数一共6次。
用近场探头检测其天线信号，发现读取失败的时候，芯片自带的电压VDD_RF ，VDD_A和VDD_X会有跌落。
|
电压 |
跌落幅度 |
|
VDD_RF |
1.5V |
|
VDD_A |
0.2V |
|
VDD_X |
0.8V |
附图正常识别的辐射信号，也会出现辐射间隙掉电的情况：
1.3 疑问
- 什么情况下会导致不识别标签现象，哪些参数可以去量化、筛选此现象？？
- 什么原因会导致VDD_RF跌落？此跌落是否属于正常现象？
- 如何监控接收信号的强度？可以通过哪个寄存器去读取？
Cherry Zhou：
您好，您的问题我们需要升级到英文论坛看下，有答复尽快给您。
,
Cherry Zhou：
您好，
非常抱歉地告知您，此产品的论坛支持已缩减为首先参考我们的现有文档和配套资料。 TI 没有计划停止生产或将器件置于“不推荐用于新设计”状态，因此我们觉得有关这些器件的大多数问题都可以通过查看现有配套资料和以前提出的问题来回答。 要获得支持，请查看该页面右下角的“相关”部分。 此外，请查阅 TRF7970A product web page 中的Technical Documentation” 部分，以及 Frequently Asked Question document。 或者您也可以使用搜索引擎来查找相关的 E2E 帖子。 借助这些资源，我们相信这将有助于解决您的问题。很抱歉无法再为您提供相关支持，给您带来的不便敬请谅解！
