TI中文支持网Part Number:BQ78350-R1AOther Parts Discussed in Thread:GPCCEDV
在老化测试充放电过程中，从打印出的数据看到，在放电过程中，满充容量到改变时，SOC从此前一直均匀下降，突变从50%以上大幅下降到7%左右，而从电池容量和电压看都没有这么大变化。
不知什么原因？
Star Xu：
您好，CEDV相关参数是否配置，您可以通过GPCCEDV上传log数据获得。
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Michael W：
只主要设置了DEV0，1，2的值，学习满充值，循环学习改为3次，其它基本用的默认值。另外用的电池是21700-50S，12串8并。设置补偿和不补偿一样会出现S0C跳变。
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Michael W：
只主要设置了DEV0，1，2的值，学习满充值，循环学习改为3次，其它基本用的默认值。另外用的电池是21700-50S，12串8并。设置补偿和不补偿一样会出现S0C跳变。
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Star Xu：
您好，建议您用GPCCEDV 计算CEDV的相关参数。再完整学习，能改善跳变问题。
www.ti.com/…/GPCCEDV
