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IWR6843AOP: 生产测试相关咨询

Part Number:IWR6843AOP

工程师,您好!

我公司正基于IWR6843AOP开发新产品,其中固件为自主开发,未使用TI固件。

下记文档指出,基于ti雷达芯片开发的产品,在生产过程中需要进行若干设置测试。

在此确认一下,使用IWR6843AOP开发的产品(固件自主开发),在生产过程中,具体需要进行哪些设置和测试?

以上,盼复。

JingMingJun

Shine:

在下面文档的第2,3章节有具体的介绍。https://www.ti.com.cn/cn/lit/an/zhcaax7/zhcaax7.pdf

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user5309454:

Shine,您好!

谢谢解答。

是否可以认为:

基于IWR6843AOP设计的产品,无论固件使用ti的还是自主设计的,

都必须按照文档zhcaax7.pdf中的说明,对每个产品逐一进行生产测试。

如果未按照文档中的说明进行生产测试,则雷达反馈结果与实际值之间会有偏差,

且在每个产品上,此偏差大小并不相同,最终将无法保证雷达反馈结果的正确性。

以上,盼复。

JingMingJun

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Shine:

是的。

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user5309454:

不好意思,还有点疑问。

ti的雷达芯片中,一种不带天线,需要客户自己进行天线设计,

一种是芯片集成天线的(我用的IWR6843AOP即属于此种),无需客户再进行天线设计。

前者,由于不同客户的射频天线和馈电的设计&制作差异,需要根据下记文档要求进行测量补偿,可以理解。

https://www.ti.com.cn/cn/lit/an/zhcaax7/zhcaax7.pdf

但我用的IWR6843AOP,芯片集成天线的设计&制作的差异性应该非常小,

应该可以保证相当的准确度和一致性,而不必再做文档中说的测量补偿了吧?

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Shine:

对于AOP,主要考虑thermal问题。请参考下面的文档。https://www.ti.com/lit/an/swra672/swra672.pdf

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user5309454:

Shine:

您好!了解了。

对采用IWR6843AOP集成天线芯片的产品,在生产时无需进行测量补偿。

明确这一点,对我帮助很大,谢谢回复!

以上

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Shine:

我觉得量产时还是需要测量补偿的,我去确认一下,下周给您答复。

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user5309454:

好的,麻烦了。

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Shine:

不客气~

抱歉,e2e那边的回复可能要晚些,请关注下面帖子的回复。IWR6843AOP: compensation production test – Sensors forum – Sensors – TI E2E support forums

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user5309454:

没关系,我不太急,谢谢帮忙确认!

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Shine:

还是要做的,请看下面工程师的回复。Yes. Just like the PCB antennas will have the boards fabrication variability(which is ironed out using this procedure) the AOP devices will have package level variabilities

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user5309454:

了解了,谢谢!

文档zhcaax7.pdf看完之后还不是很清楚,还有其他相关支持文档吗?

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Shine:

抱歉,量产测试的文档目前就这一篇。

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