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CC2564C: test mode

Part Number:CC2564C

TI的工程师们,你们好。

根据《CC256x Testing Guide – Texas Instruments Wiki.pdf》中我看到了进行BT SIG测试建立的方法,在《RF.TS.p30e2.pdf》中也可以看到SIG定义的各项测试指标,如:

RF/TRM/CA/BV-01-C [Output Power]、RF/TRM/CA/BV-02-C [Power Density]、RF/RCV/CA/BV-01-C [Sensitivity – single slot packets]等测试案例。

我想知道在tester与DUT建立测试后(test activate完成),如何控制DUT进行各个测试案例的切换呢?(如从测试RF/TRM/CA/BV-01-C [Output Power] 切换到 测试RF/RCV/CA/BV-01-C [Sensitivity – single slot packets])

 

Cherry Zhou:

您好我们已收到您的问题并升级到英文论坛寻求帮助,如有答复将尽快回复您。谢谢!

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Xinxin:

请问有回复了吗?

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Cherry Zhou:

您好,在您的这个问题中,CC256x 由蓝牙测试仪控制,具体可以查看CC256x 测试指南第 4 页的 "BT RF SIG 模式 " 。HCI 命令可用于将器件置于测试 RF SIG 模式。 完成正确的序列后 (先加载 BT 服务包,然后加载 DUT 脚本) ,BT 测试仪将通过 RF 链路 (LMP) 控制器件。

此时,蓝牙测试仪负责执行每个测试。

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