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OCTVO-3P-AM335X: am335x ADC采样,外部参考源Vref跳变

Part Number:OCTVO-3P-AM335X

am335x ADC采样,使用外部参考源Vref=1.8v。 底层都配置好后,在没有启动adc采样时,测量外部参考源Vref是准的,但是一旦启动adc采样,会发现外部参考源Vref一直在跳变,从而导致adc采样值不准。

Nancy Wang:

外部参考源Vref除了做ADC基准,还有其他负载吗?或者可以将相关原理图贴出来。

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d d:

没有负载。只做ADC基准。         是不是这个vref输入管脚配置有啥要求的?

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Nancy Wang:

2.11 Touchscreen

www.ti.com.cn/…/sprabn2a.pdf

请问是如何测量的?如何跳变的?

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d d:

配置16step,每个step对通道采样一次,对16个采样数据进行滤波处理。   启动adc采样进行中断采样,测量Vref,随机变动,距离1.8V可能会有一到两伏的差距

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Nancy Wang:

是通过万用表还是示波器测量的?可以附上波形吗?

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d d:

是用毫伏表测量的。 波形暂时没测

,

Nancy Wang:

有其它板子吗?测一下看看,或者改为内部基准看一下采集是否正常?

同时我也会帮您咨询其它工程师看看。

,

d d:

换了几块板子都是一样的现象。 内部基准测过也不准。  麻烦您帮忙资讯下其他工程师哈

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Nancy Wang:

像是 ADC 采样时潜在的电流消耗问题,能否将原理图附上来一下。

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