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CC1310芯片增加外部32.768K晶振,测试晶振管脚X32K_Q2管脚的波形异常

使用CC1310芯片,增加外部32.768K晶振,测试晶振管脚的波形,其中X32K_Q2管脚的波形占空比达到60%以上,所有的板子都是同样现象,请问出现这样的现象,是否可以通过软件配置寄存器参数处理,如果不能,可能是哪里存在问题?

user6339657:

Kevin Qiu1:

回复 user6339657:

是参考这里的设计电路

制作的板子吗,还修改过哪里?

Albin Zhang:

这个长什么样子都不具备判据的。具体来说,这个只是中间信号。后面还有slicer呢。

具体测试来说,你也不能直接用示波器测试这个pin的,引入寄生参数震荡频率就不准了。你可以把32k的信号mapping到一个DIO上,然后测试。PS。如果测试精度,示波器也没用,可以用counter, 或者频谱仪(RBW调到Hz级别)

BR. AZ

user6339657:

回复 Albin Zhang:

X32K_Q1管脚用示波器测试的就是正常的,用频谱仪测试频率,使用电容隔开点在晶振管脚测试,X32K_Q1管脚测试的频率正常,X32K_Q2管脚频率测试大概有10%会超晶振频率范围(测试为32.766KHz,晶振的精度为±20ppm)

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