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TAS6424L DC diagnostics Problem

Other Parts Discussed in Thread:TAS6424L-Q1

当前我们用TAS6424L-Q1做DC 诊断,其中设置0x09寄存器为0x00(采用自动诊断方式)。

1. 其中4 个channel的默认管脚是开路状态,对应读取寄存器0x0C / 0x0D的值都为0x22,表示4个channel的状态都为open load detect, 此时寄存器0x0F的状态为0xFF(都为DC load diagnostics);

2.当channel 1的管脚 相互 短接按照预想的对应的0x0C寄存器中对应的bit位显示位1(0x12),且0x0F寄存器对应的bit 位为11状态(0xFF),但是测试结果会偶发对应的0x0C寄存器中对应的bit位显示位0(0x02),且0x0F寄存器对应的bit 位显示位play状态(0x3F)的情况,而且此时0x11寄存器会报CLOCK fault;

 检测正常 情况,对应寄存器反馈值正确

 偶发触发clock fault, 

3.针对0x11寄存器会报CLOCK fault,相印测量了SCLK/MCLK 为12.28Mhz, FSYNC 为 48kHz(由时钟由dsp提供),clock没有变化;

4.针对上面测试偶发clock fault后, channel 1从管脚短接恢复为开路状态,对应0x0C为还保持在0x02,寄存器0x0F为0x3f,其他channel 检测不受影响;

请帮忙看下是为什么,1我的理解Dc 诊断开启自动模式后,应该随时能检测出故障状态;且为何会产生clock fault?

user6508883:

当前我们用TAS6424L-Q1做DC 诊断,其中设置0x09寄存器为0x00(采用自动诊断方式)。

1. 其中4 个channel的默认管脚是开路状态,对应读取寄存器0x0C / 0x0D的值都为0x22,表示4个channel的状态都为open load detect, 此时寄存器0x0F的状态为0xFF(都为DC load diagnostics);

2.当channel 1的管脚 相互 短接,按照预想的对应的0x0C寄存器中对应的bit位显示位1(0x12),且0x0F寄存器对应的bit 位为11状态(0xFF),但是测试结果会偶发对应的0x0C寄存器中对应的bit位显示位0(0x02),且0x0F寄存器对应的bit 位显示位play状态(0x3F)的情况,而且此时0x11寄存器会报CLOCK fault;

  检测正常 情况,对应寄存器反馈值正确

  偶发触发clock fault, 

3.针对0x11寄存器会报CLOCK fault,相印测量了SCLK/MCLK 为12.28Mhz, FSYNC 为 48kHz(由时钟由dsp提供),clock没有变化;

4.针对上面测试偶发clock fault后, channel 1从管脚短接恢复为开路状态,对应0x0C为还保持在0x02,寄存器0x0F为0x3f,其他channel 检测不受影响;

请帮忙看下是为什么,1我的理解Dc 诊断开启自动模式后,应该随时能检测出故障状态;且为何会产生clock fault?

 

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Amy Luo:

您好, 感谢您对TI产品的关注!查看数据手册9.3.7.1 DC Load Diagnostics,可看到下面截图中有SL Minimum和SL Maximum,在SL Minimum至SL Maximum之间区域是正常和Shorted Load不确定区,因此我考虑您读取的寄存器状态偶发性不正确,是不是由于Shorted Load落在了这个不确定区造成的,建议您做一下这个实验,即将shorted-load threshold(DC Load Diagnostic Control 2 Register (address = 0x0A))设的大一些,看是不是您在短接channel 1的管脚时阻值太大造成的

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user6508883:

针对短路channel的两个管脚偶发short to load检测不出来,为何还会产生clock fault?

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Amy Luo:

请查看下面链接中回复,里面详细说明了什么情况下会产生clock fault
e2e.ti.com/…/875748

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