DAC3161在应用中若要使用IO TEST该怎么用？我现在能输出正常波形，但温度变化过大后，可能会有FPGA和DAC数据接口时序不匹配问题。调整寄存器延时后又能恢复正常。所以想用DAC芯片内部的IO TEST功能实现接口时序先验证再工作。但无论怎么配置都无法正常使用该功能。
您好，
感谢您对TI产品的关注！为更加有效地解决您的问题，我需要询问更了解这款芯片的TI资深工程师，再为您解答，一旦得到回复会立即回复给您。
我咨询的工程师将在他电脑上测试DAC3161的IO TEST功能，这周末会给反馈，请您耐心等待，谢谢
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