TI中文支持网请问：
我在测试DCDC环路稳定性时，使用的是电压注入的方式测量环路稳定性，就是在输出反馈电阻上串联一个50欧姆电阻，在两端使用BODE100测试仪加入扫频信号。
我的问题是，如果把DCDC看成负反馈系统时，环路稳定性测试的增益到底是开环增益？闭环增益？还是环路增益？
测量的相位是加入扫频正弦信号的环路附加相移？
请问以上是否正确，或者请详细介绍下为什么在0dB增益裕量处读取相位裕量，且要在45到80之间？
为什么在相位裕量为0时，读取增益裕量？
谢谢。
Iven Su：
你好，
1. 环路分析仪测试的是开环增益，测量的相位就是相移。
2. 这是由奈奎斯特稳定判据决定的，可以去看一下自控原理的知识。
user5816473：
开环增益
user5160578：
开环增益
user5816513：
对，你说得对
user5816471：
开环增益，相频图没有＋180度
user5816513：
回复 user5816513:
环路稳定性测试的增益是开环增益
Johnsin Tao：
回复 user5816513:
Hi有些视频或可以看看：training.ti.com/china-video-1714-1715-1716-1717-1718
Marvellous Liu：
回复 user5816473:
为什么是开环增益，DCDC环路稳定性测试时，反馈环路和输出是一直连接的，而此时输入也不仅仅是反馈信号，还有输入信号，从负反馈放大电路来讲，如果没有反馈环路，则才能称为开环增益啊，既然测试拓扑是完整的负反馈系统，那就不应该是开环增益啊！TI讲运放稳定性的资料中描述的稳定性测量是开环增益，但是此时的测试拓扑和电源环路测试是不一样的。
Iven Su：
回复 Marvellous Liu:
你好，
因为环路稳定性测试的接法是测 输出电压上的响应 / 输出电压处注入的纹波，刚好就是开环增益的定义。你讲的没有反馈环路的传递函数一般称之为被控对象的传递函数，被控对象传递函数x补偿器传递函数=开环传递函数。
