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BQ24133充电芯片OVPSET损坏

问题状态:5V输入情况下,单电池充电,BQ24133的OVPSET出现短路问题。

工作条件:充电电流限值在1A,外部5V是适配器供电,纹波稳定。

初步分析:OVP分压电阻使用500K以上分压,可以排除电流击穿。 该充电电路非常靠近喇叭单元。是否单体高磁对芯片有影响?或者其他影响因素?

Star Xu:

如果怀疑是高磁导致的,您可以在高磁环境和非高磁环境分别做一下验证。

answer:

此引脚超过7V时才会有损坏,换一个BQ24133,然后用示波器抓一下OVPSET引脚的波形,设置成上升沿触发,看一下电压的来源

user5351780:

回复 Star Xu:

正在做该实验验证。

user5351780:

回复 answer:

目前分压是1.3V左右。担心在高磁环境下示波器会造成影响。后续实验会测试该电平。

Johnsin Tao:

回复 user5351780:

Hi过压机会大。 可以测试时,条件分有喇叭和没喇叭。建议输入增加TVS管。

user5351780:

回复 Johnsin Tao:

裸机远离单体没有出现损坏过,所有损坏都是靠近单体时发生。基本排除过压损坏。

Frank Xiao:

你好,

可能的话做下失效分析,没有条件的话,建议检查下是否遇到esd 问题(烙铁,或装配),谢谢。

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