TI中文支持网各位技术人员大家好：
我用BQ40Z50-R1芯片自己做的电池保护板，连接三串三并电池做成电池成品（11.1V，7800mAh）后送检测机构进行UL认证（UL2054），目前只剩下一项测试通不过，即UL认证测试第11章滥充电测试。测试条件是30V，15.6A充电，充电通路上串联一颗自恢复PTC热敏电阻，机构反馈测试完以后电芯量不到电压了，经过咨询18650锂电池厂商原因是电池内部安全阀动作。
今天收到检测机构寄回的电池样品，将坏电池组换成好电池组，保护板还是测试用的保护板，想看一看BQ40Z50-R1芯片内部记录的测试数据，可是这时发现板子有轻微发热，同时电池电压越来越低，应该是出现了自放电现象。
回过头我看了一眼BQ40Z50-R1芯片的PACK脚最大容许输入电压为30V，也就是说这项测试已经处于芯片容许电压输入的临界值了，我想请教一下在这种情况下电池出现了自放电导致认证不能通过的情况应该如何处理？为什么会出现自放电？（不做该测试的正常情况下电池组工作正常）
滥充测试的时候充电控制MOS管是直接被短路掉的，30V，15.6A是三串三并电池组（11.1V，7800mAh）测试标准，这些都不能变，现在认证卡在这里迟迟过不了，还请各位技术人员施以援手，有没有该芯片该认证的相关经验可以分享，谢谢了！
felix.yan：
加二次保护的电路啊，三段保险丝
Alfred_chan：
回复 felix.yan:
这个UL认证要求加保险丝可以，但必须要是可逆的，所以不让加三端保险丝，我加过自恢复PTC，可是18650锂电池内部安全阀还是弹出了，不能进行10次重复测试，机构就不让过。
