TI中文支持网使用 BQ40Z50R1 , 批量生产测试通过后， 接板到电池， 测试正常，老化正常， 静置3-5天， 总会发现有个别 FUSE 无缘无故置1， 导致 CHG 和 DSG 的 MOS 全部关闭。设计中 FUSE 直接接0R 到地， 未做三端保险控制， 未做二次保护芯片。 GG 设置中也未开启 FUSE 。 BQ STUDIO 中并未见其他异常， 单单就是 FUSE 单独置1.
原理图， SBS 图片如下。烦请帮忙看下到底是什么问题。 这个问题影响很严重， 测试好的老化过的静置会出异常……..
Star Xu：
lifetime是否有记录异常
user4005074：
回复 Star Xu:
lifetime数据都是正常的。
user4005074：
回复 user4005074:
等待回复
Star Xu：
回复 user4005074:
建议您做一些ESD测试，看会不会导致fuse拉高
user4005074：
回复 Star Xu:
静置产生的异常 与ESD 也有关系吗？ 除了ESD 还有什么其他的可能
