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BQ40Z50-R2 測試IEC 61000 4-3 出現異常電流

您好!!

客戶遇到一個問題回覆,在測試IEC 61000 4-3 RF 射頻干擾時(電池與系統一起測試,系統為醫療用平板電腦),此時為充飽電狀態,電池組出現PF(CFETF啟動)狀態,將電池鎖住,無法充放電。

我們將客戶寄回的電池照客戶條件模擬後發現,在IEC61000 4-3 測試時,頻率在高頻 1G Hz以上,Gauge IC 內部偵測出107mA的電流,進而造成PF啟動.

Gauge IC 設定如下:
1. CHGFET設定為1
2. CFETF 設定條件: 100mA / 5S

客戶想要知道,射頻干擾為何會造成Gauge IC內部偵測出107mA的電流,或者是TI 有沒有遇到類似這樣的情況.

再麻煩協助.謝謝

Chris

Star Xu:

干扰不太可能直接在IC中引起问题,它通常是通过某种方式通过引脚从PCB进入的。您可以在输入到设备的信号上放置一个具有高自谐振频率的电容,将有助于衰减高频感应元件进入零件的过程。
您可以参考下面链接的例子进行分析。
e2e.ti.com/…/329364

Chris Chu:

回复 Star Xu:

Dear Star

你好!!

感謝您的答覆,我們會試試看您提供的方式衰減高頻感應元件進入零件的過程。
所以,當透過某種方式(ex.高頻干擾)進入PCB,進而影響到Gauge IC,使得Gauge IC內部抓到Current Shunt之間有電壓差(SRN & SRP 引腳),產生所謂的誤電流對吧,我這樣的理解正確嗎?

Chris

Steven CHEN:

回复 Chris Chu:

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