TI中文支持网你好，板上2块ADC，低温下一块ADC的指标变差，常温测试采用Wavevision5测试ENOB在8bit以上；低温-40°c时，输入和常温同样幅度的信号但此时ADC已经饱和，数字化的数据大于1023，对比板上另外一块正常的ADC没有饱和，指标正常。将输入幅度减小不让问题ADC饱和，发现问题ADC量化后的数据比正常ADC量化后的数据大3~5dB。测试序列测试FPGA采集到的数据没有误码。请帮助分析一下，谢谢。
Seasat Liu：
在低温试验的时候，和ADC一起进入温箱的还有什么芯片？它们是不是都是工业级别的？FPGA？
John Yang：
回复 Seasat Liu:
是的，所有都是工业级的，FPGA是Xilinx的V5，盼望回复啊
Decapton Wang：
不太确定这颗ADC是否需要license。如果需要license，最好在取得license之后联系当地的TI FAE做现场支持。
