TI中文支持网最近在用ADS1115这颗芯片,需要反复交替检测2路AD信号,交替方法是改变ADS1115内部MUX寄存器来改变AINx口,发现如果不改变MUX设置(只检测1路AD信号)的情况下,AD采样值很稳定,如果反复交替测量的时候AD采样值就会变差,而且交替频率越高,数据越乱,越差.目前2秒交替一次得到的数据才是正常的,我想ADS1115的采样时间不至于要1秒多吧????
user151383853：
很有可能是输入信号源的阻抗过高引起的
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