你好:
我公司使用TLC5617 DA芯片输出,作为4-20ma及 0-10V输出的信号源,电路为典型的DA输出加运放的结构,使用射频信号进行干扰实验后,DAC的输出发生较大变化,模拟电路使用单点接地,后接运动跟随电路进行阻抗变换。试过多种线路布局,换过电容、加过磁珠,加过共模电感,以及周围电路用铜箔屏蔽,无论如何,反复试验,5617后级不管浮空还是接运放跟随电路,5617在受到射频干扰后输出电压波动均超过10%。严重影响整个设备的可靠性,请问是否有解决方案。
user151383853:
嗯, 抗干扰是比较困难的问题. 后面加运放能减小输出受干扰的情况.
但是还有电源和 REF 受干扰的情况没有考虑到,
你应该检查一下哪里受了干扰, 还有干扰途径
smith mark:
回复 user151383853:
最初也怀疑基准和电源上的干扰,但基准信号及电源实测波形在受干扰时也相当稳定,几乎没有变化,似乎仅仅是芯片本身问题,管脚仅OUA和OUTB输出同时有较大波动
Kailyn Chen:
您这里提到是做了射频信号干扰实验之后,发生输出波动是吗?
smith mark:
回复 Kailyn Chen:
是的
Kailyn Chen:
回复 smith mark:
那这样的话,射频系统发出的高频信号很有可能耦合到输入端,并且也有可能造成ADC输入端ESD 二极管的自激,引起ADC输出偏差。 所以可以对射频信号进行屏蔽,然后再看看输出是否还有波动?
smith mark:
回复 Kailyn Chen:
这个是dac。输入是spi数字量。输出模拟量
smith mark:
回复 smith mark:
测试情况下数字量给的是固定值
user5783411:
回复 smith mark:
很好的交流
user5783360:
回复 user151383853:
干扰源找到就好办了
user5783396:
听大佬们操作
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