TI中文支持网我使用的一款ADS8688，特别容易损坏，想请求一下帮助分析原因。
系统中有高压电源，每当高压电源有短路故障时，ADS8688就很容易坏。当然，高压电源和ADS8688并无直接联系，高压电源的控制电路（非主回路）通过模拟信号通道与ADS8688之间有共地联系。损坏的现象是，ADS8688的SDO脚输出波形不再是矩形脉冲（如图）。
现在可以确定的是外部高压电源发生短路故障时，会损坏ADS8688，其他器件无损坏。但具体这个损坏的机制不清楚，不知道浪涌是从什么途径进去的。在上传所示PDF电路图基础上，各电源、信号输入端增加瞬态抑制二极管无效，5V和3.3V电源是加的SA5.0A，模拟输入端加SMCJ11A，瞬态抑制二极管无损坏情况发生。
短路的电源是 工业除尘用高压电源，为数十千伏的直流。因为采用的是电阻分压取样，存在与ADS8688共地的情况，该地即我图中的“外AGND”，“外AGND”在板上通过磁珠与“外DGND”相连，且“外DGND”为DA转换器的地，给高压电源提供准信号。整个电路中不止ADS8688接到该地上，但损坏的只有ADS8688，对损坏器件进行测试SC,SCLK,SDI波形均正常，仅仅SDO波形异常（如图，看起来是有数据输出的）。
这是否意味着该芯片数字输入端接收都是正常的，仅数字输出端坏了？如此现象，请问能否结合芯片内部结构，分析出浪涌进入的途径和损坏原理，从而施加防范措施？TI公司是否有可能接收损坏芯片进行DPA分析？
ADS8688数据转换板.pdf
user151383853：
从描述看,静电高压等因素可能性很大, 只能仔细分析电路和 PCB 板，看看高压影响的路径
Kailyn Chen：
您好，根据您的描述，很有可能是EOS导致的芯片损坏，EOS简单来讲就是过应力导致的损坏，芯片过压或过流使得芯片产生大量的热能，使元器件内部温度过高从而导致芯片损坏，EOS的现象也通常是芯片某一模块损坏，部分功能正常。
user4291622：
回复 Kailyn Chen:
从测到的波形来看，SDO是有数据输出的，是否说明CS,SCLK,SDO是好的呢？要不SDI怎么会有输出？结合这个情况，能否找出重点怀疑的路径呢？
mangui zhang：
回复 user4291622:
波形看像通信端口不匹配的样子，是否两端电平不匹配，设计时可以串接电阻
容易损坏还是硬件设计问题，如果存在高压控制信号应该与控制器隔离
