TI中文支持网
你好，就如图中所示，
1.在近地点会出现一个较强的目标反射点（虚假点），在实际测量中放置一辆自行车测量时虚假点的强度甚至比目标点还高。如果在测量一角锥时则会压得比较低。请问这是由于什么原因导致的。是由于天线的问题吗？
2.同时从图中看在做一维距离向FFT时是否经过了特定的处理，如加窗等措施使实际目标旁边的旁瓣压得相对较低。
感谢解答。
user6332960：
回复 Chris Meng:
你好，我在文件里没找到这个链接；方便发下链接吗？感谢
user6332960：
回复 Chris Meng:
你好，根据你的指导，已经看到此文档的解释。但是此链接的解释是关于近场的相位校正问题。而我想请教的是关于接近零点位置的信号强度为什么会那么高，而此时在靠近零点处没有目标点。
Chris Meng：
回复 user6332960:
你好，
请问你的idle time和adc start time是如何设置的? 加大这个两个参数值，对输出是否有变化?
